SW Test - 기능적 테스트 기법

Functional Testing Technique에는 오류 추측, 경계값 분석, 동치 분할 등이 있습니다.

 

오류 추측(Error Guessing)

 

가장 일반적이고 가장 널리 사용되는 기법입니다. 주어진 기능에 대해 직관과 경험을 이용하여 가능한 에러의 종류를 예측하고 이를 바탕으로 테스트를 수행합니다. 시험자의 역량에 테스트 결과가 의존하는 경향이 있습니다. 테스트의 마지막 단계에서 사용하는 것이 적절합니다. 스펙이 거의 없거나 불충분할 때, 시간적인 압박이 심할 경우에 유용한 방식입니다. 다른 기법이나 공식적인 테스트를 보완할 때도 유용합니다.

 

예) 휴대전화에 저장공간이 5MB가 남아 있는데 10MB짜리 영상을 다운로드 시도하면 어떻게 될까?

 

 

 

동치 분할(Equivalence Class Partitioning)

 

SW에 입력가능한 데이터를 여러 무리(집합)로 분류하고 이를 바탕으로 각각의 무리에 대표값을 설정하여 테스트하는 방법입니다. 같은 결과값을 출력하는 입력 데이터값의 모임을 동치분할의 집합이라고 합니다. 예를 들어 휴대전화 배터리 잔량을 표시하는 프로그램에서 배터리바를 4개로 표현한다고 하면, 배터리 용량의 25~50% 사이값은 동일하게 배터리바가 2개 표시될 것입니다. 동치분할은 유효한 입력데이터 외에도 유효하지 않은 입력 데이터에 대한 테스트도 포함되어야 합니다. 숫자 1~10까지 입력이 가능한 프로그램이 있다면, 10을 초과하는 값이나 음수(-)에 대한 검증이 필요하며, 숫자가 아닌 문자가 입력되었을 때에 필요한 검증도 실시하여야 합니다.

 

 

경계값 분석(Boundary Value Analysis)

 

동치분할의 경계 부분에 해당되는 입력값에서 결함이 발견될 확률이 경험적으로 높기 때문에 경계값을 포함하여 테스트를 진행하게 됩니다. 앞서 언급한 배터리 잔량 표시 프로그램의 경우를 다시 살펴 보면, 25~50%(25%초과 50%이하) 사이값을 표현할 때 경계값은 25, 26, 50, 51 등이 해당된다고 볼 수 있습니다.